理工学部の青柳里果教授（専門分野：表面分析、データ駆動計測、機械学習）が編集幹事を担当した専門書『表面分析技術選書 二次イオン質量分析法 第2版』（丸善出版）が、5月30日に刊行されます。
本書は、1999年刊行の初版以来25年ぶりの大幅改訂となり、二次イオン質量分析法（SIMS）の基礎的な内容に加えて、目的別の応用例も大幅に拡充されており、これからSIMSを学ぶ学生から、現場の実務者まで幅広く活用できる一冊です。
また、本書の執筆には、本学大学院理工学研究科博士後期課程の修了生である齋藤玲子博士（東芝）および松田和大博士（東レリサーチセンター）も参加しています。
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